增材制造(AM)技术有能力生产出包含复杂几何图形的部件，这些部件以前是不可能用传统方法制造的。然而，在应用质量保证原则方面存在许多障碍，如空间和几何检验与验证等。特别是在检查表面时，传统的光学和接触面测量解决方案通常无法测量无法进入的内部表面。这种情况在典型的AM几何结构中是常见的，例如空心部分和晶格结构。
x射线计算机断层扫描（XCT）最近已成为工业部件整体测量的一种有用工具，并正逐步纳入计量器具工具箱。尽管XCT在标准化的使用上仍存在许多问题（ISO 10360-11仍在草案阶段），但它已经开始显现出在测量AM部件内部几何图形方面的优势。虽然XCT通常可以实现的空间分辨率从来没有达到捕获一个小尺度表面所需的水平，但在总体形状上，先进的系统在它们的最佳测量场景中正在接近这些分辨率，因此XCT正在成为测量内部表面的一个可行的选择。
当考虑到AM零件通常拥有复杂的内部几何图形，将XCT作为克服接触和光学测量内在需求问题，进行表面形貌测量的一种方法是非常有前景的。在最近的一些研究中，重点强调了XCT在表面形貌测量中的应用。
在XCT对内部表面测量的验证中存在大量的工作。然而，到目前为止，还没有专门研究内部表面测量的研究。为了解决这一研究需要，诺丁汉大学工程学院的英国制造计量小组最近做了一项研究，比较XCT内部表面测量和利用传统光学表面技术进行的测量方法。
为了证明XCT对内部表面测量的可行性和潜力，实验使用两个XCT系统获得表面数据集，并与使用相干扫描干涉测量和聚焦变化显微镜获得的数据进行比较。采用激光粉末床熔融法制备的中空Ti6Al4V零件被用作测量的人工制品。这一人工制品由两部分组成，可以分离，以暴露内部表面。结果表明，XCT可以在不破坏零件表面的情况下获得表面信息，可与传统的表面测量技术相媲美，从而为传统的测量方法提供了一种可行的替代方案，尤其适用于难以触及的内部表面。
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作者：徐婷
