METROLOG
通用3D测量软件
立即使用Metrolog进行质量检测
为您的3D测量设备等提供真正的性能加速器。
Metrolog X4架构不仅受益于当前的计算机和OS技术，从而显着提高了性能和计量软件的计算能力，而且还简化了您的日常测量工作流程。
一站式通用解决方案，可简化您的3D检测，无论使用哪种测量设备一站式通用解决方案，可简化您的3D检测，无论使用哪种测量设备
兼容性连接：支持所有设备
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与所有便携式设备兼容
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超过100种设备接口
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关节臂，激光跟踪仪和P.O.D. 系统
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支持所有品牌
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多连接
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在测量设备之间即时切换
高性能：大数据集
不再有大量数据的延迟和瓶颈。未来几年，无论是CAD文件还是来自光学传感器的测量点云，数据和处理量都会激增。
Metrolog X4 64位架构使用所有可用的内存和优化功能，始终处于极限状态。无与伦比的性能和无与伦比的易用性。
该软件体系结构具有两个主要优点：
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导入和处理大容量的CAD文件。
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导入和分析高容量的点云而无丢失。
增强的界面可为最终用户带来流畅的体验
完全可定制的用户友好图形界面，可满足操作员的需求，机器类型和测量类型。
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新的手动探测向导。
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采集过程中自动查看方向。
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多个信息窗口（位置和结果）。
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随时可用的19种语言切换软件。
增强的分析：一流的GD＆T和报告
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Metrolog X4具有新的几何和尺寸公差处理引擎，可在记录时间内处理最复杂的情况。
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简化了几何公差定义。
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“专家”系统，确保正确的评估方法和结果。
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全面支持符合给定标准的公差评估。
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支持ANSI和ISO标准。
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由PTB和NIST组织认证和认可的解决方案。
点云分析中的最高性能
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Metrolog旨在处理和分析最大和最密集的点云。
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Metrolog集成了高效光学测量功能所需的最新技术，可确保无论使用哪种设备，您都拥有最好的工具。
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使用CAD（色彩分布）进行云比较。
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元素提取和自动GD＆T。
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直观的阶差和间隙。
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测量并补偿材料厚度。
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根据表面mm²估算零件质量（面积计算）。
与Metrolog进行一致的大规模检测
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与所有大型测量设备，激光跟踪仪和移动光学系统兼容。
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支持所有现有品牌和型号。
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多连接模式可以控制多个
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设备同时参考所有测量结果（捆绑）进行测量。
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考虑设备的不确定性和比例因子（温度变化）。
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跟踪和管理原始数据。
高效零件编程
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轻松创建完整的零件程序。
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提供在线或脱机示教。
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规划文件集成的完整过程。
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面向操作员的说明，功能强大车间执行。
同类最佳的报告器
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强大的报告器可实现完整，轻松的自定义。
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简单且用户友好的界面。
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创建适合您的客户要求的自己的报告模板。
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自定义任何类型的输出：助手，状态器，从库直接导出等。
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导出具有多种文件格式，例如.XLS，.CSV，.PDF
Metrolog与所有主要的计量设备品牌兼容。今天有110多个接口可用。
