ZEISS ROTOS CMM粗糙度传感器提高测量效率

即使是在复杂的工件上，新的ZEISS ROTOS粗糙度传感器也可以使用坐标测量仪来彻底检查表面的波纹和粗糙度，所有的都在一个单独的测量程序中，不需要任何部分的重新夹紧。这种最前沿的创新简化并加速了在单个测量装置中测量零件图的所有表面参数。

ZEISS ROTOS传感器使得可以在一台机器上检查尺寸、形状、位置公差和粗糙度参数。现在可以在ZEISS PRISMO和ZEISS CenterMax坐标测量机(CMM)上执行操作，而不是要求单独的触控笔来捕获更重要的形式偏差。利用CMM探测器上的接口，可以方便地交换传感器。根据测量机和特定的触控笔，用户可以用新的传感器捕捉到0.03微米的Ra粗糙度值。

创新的ZEISS ROTOS设计能检查几乎所有工件特性。三种可旋转的、多个触控笔臂，使得测量深孔和难以到达的表面成为可能。对ZEISS ROTOS来说，间接测量也不是问题。新特性包括用于测量封面粗糙度和波纹度的skidless styli。在ZEISS的CALYPSO测量软件中，将表面粗糙度进行了分析和可视化，并在ZEISS PiWeb报告软件中显示了尺寸、形状和位置。

Zeiss CMM用户可以受益于不再需要在分离的系统中进行在线粗糙度测量，因为部件可以在单个设备中进行检查，从而消除了粗糙度测量系统和CMM之间的部分运输，使测量过程更快、更可靠、更灵活、更高效。