蔡司携新的质量控制检验解决方案亮相IMTS 2018

Being sure是蔡司（ZEISS）在2018年IMTS(国际制造技术展)的工业计量主题，提供广泛的定制质量体系和支持。无论是在实验室，测量室还是在生产中，为了确保高效可靠的质量保证流程，需要的不仅仅是检测系统。无论是现在还是将来，客户都需要一个拥有经验丰富的合作伙伴。从CT解决方案到CMM再到软件，蔡司在IMTS的三个展台中展示了几个定制的解决方案：East Building, 135502(主展台)和135655 (ZEISS x射线解决方案)，以及North Building, Smartforce Student Summit, 215406。蔡司增材制造工艺与控制主管将于9月12日(星期三)上午11点至下午12点在West Building 192-A室的IMTS会议上展示3D打印工艺链的良率改进。

ZEISS X射线解决方案

蔡司收购了意大利X光供应商Bosello HT的多数股权，为客户提供更广泛的CT解决方案。BOSELLO SRE MAX 2D工业辐射检测系统将会在本次展会上展出，展示为汽车和航空航天工业提供的在线检测解决方案。该技术提高了铝铸件检验的质量水平，将在ZEISS METROTOM上演示完整的内部和外部零件透视的3D X射线CT测量结果。我们还将突出高分辨率3D X射线显微镜与蔡司Xradia Versa。

入门级至超精密级CMM

本次展览将会展出广泛的测量系统，包括蔡司CMM产品系列的最新产品MICURA坐标测量机。蔡司的MICURA坐标测量机具有主动扫描功能，能达到亚微米精度，是测量小型复杂零件的理想选择，现在包括一个测量范围更大的型号。新系统可以处理更大的零件，测量范围扩大40％，尺寸为500 x 700 x 500毫米，并配有机器安装的控制器，可节省占地面积。ZEISS MICURA配备VAST XT金色或VAST XTR金色主动扫描传感器，角度特征最适合VAST XTR黄金传感器。它的集成旋转接头使得测针系统能够以15度的增量尽可能地旋转，从而始终将测针置于被测特征的方向。

2 D和3 D测量

从2D轮廓投影仪到3D扫描仪，再到多传感器CMMS，在蔡司主展台可以找到各种各样的光学解决方案。现在，使用ZEISS O-INSPECT多传感器坐标测量机，可以比以往更快地检查敏感、反射或低对比度表面。我们将在ZEISS O-INSPECT CMM上演示新的ZEISS DotScan染色共聚焦白光传感器。

蔡司DotScan传感器可以根据需要更换，节省了大量时间，增加了灵活性。传感器有三种尺寸，适用于不同的测量范围:1毫米、3毫米和10毫米。在2018年11月，所有的ZEISS O-INSPECT多传感器测量机系统都将采用新的传感器接口标准。

Inline. Atline. Offline.

两套机器人系统将放置在蔡司展台的中心，让与会者近距离了解最新的自动化检测解决方案。蔡司是汽车车身施工系统质量保证的一站式合作伙伴，从测量检测技术到夹具，再到质量数据管理和服务。通过集成的ZEISS技术可以获得最高的质量和生产力。

粗糙度、轮廓及形状检查

形式和表面测量系统无缝集成到蔡司的工业测量技术中。有ZEISS ROTOS拥有各种独立机器和专用于CMM的传感器。新型传感器可以使用CMM完全检查表面波纹度和粗糙度 - 即使在复杂的工件上，所有这些都可以在一次测量运行中完成而无需任何重新夹紧。这一尖端的创新简化和加快了在一个测量周期内从图纸中测量所有表面参数的过程。由于ZEISS ROTOS完全集成在CALYPSO (ZEISS测量软件)中，因此对表面参数进行编程既快速又简单。在ZEISS PiWeb报告中，表面粗糙度以及尺寸、形状和位置可以在定制的专业显示中进行分析和可视化。一种新型的带有一个大的触摸屏的便携式入门级表面粗糙度系统——SURFCOM TOUCH也将展出。

检验、分析和报告

ZEISS CALYPSO是一款易于使用的计量软件，它与ZEISS坐标测量机、光学系统、计算机断层扫描机等系列产品一起工作。无论应用程序如何，都可以使用相同的工具和功能进行检查。CALYPSO 2018将在本次展会中展出，新版本将为超过100个客户提供新的功能，进一步提高他们的质量检测流程。内置于CALYPSO 2018中PiWeb报告已经增强了新的功能，为不断增长的光学产品线提供了更多用户友好功能，提高了曲线测量和零件系列测试的效率，改进了新特性计算。