NI基于PXI的测试系统降低了半导体自动化测试成本

这一基于平台的开放式方法结合了模块化仪器和系统设计软件,为射频和混合信号生产测试提供更好的解决方案AUSTIN, Texas 2014年8月5日NIWeek－NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，今日宣布推出NI半导体测试系统(STS)系列。这些

通快半导体激光技术

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