用于3D点云检测的领先软件
Metrolog是3D点云检测的标准。它不仅加快了检测过程并增加了高效的检测时间，而且还有助于提高测量精度和减少废品。用于处理扫描点云数据的强大的Metrolog算法可提高制造过程中的质量和生产率。
尽管近年来3D扫描仪的质量已大大提高，并且已在越来越多的规模上用于3D扫描仪，以便在接触式测量系统无法做到的零件或应用中更快地获取点，但仍会不可避免地出现点云中的测量错误。我们的目标是通过为3D扫描系统带来更高的精度来应对这一严峻挑战，并帮助您更深入地了解点云检测。
利用业界最强大的功能和准确的3D扫描处理软件，充分发挥您的点云检测过程的潜力。
为什么选择Metrolog进行3D点云检测
• 无与伦比的3D点云采集，处理和分析工具集，使您可以在制造过程的早期阶段修复和预防问题。
• 针对所有CMM /机器人的完全嵌入式和无缝集成的扫描和质量控制，以及市场上最新的光学3D测量技术。
• 实时显示和计算正在进行的测量结果，以监控检测：所有功能特征和结果。
• 先进的功能，可以在不抽取的情况下收集和执行最重的3D点云数据的完整分析。
• 基于Y14和ISO 1101 GD＆T合规性的真实点云特征提取
完整的工具集
最完整，最易用的工具集，用于数模比对和配置文件（零件间和零件与CAD），突出显示超出公差范围的区域。还包括市场上最全面的GD＆T几何公差分析功能。
直接投影
使用直接投影到零件CAD文件上的快速准确的点云分析。投影基于多项式模型，而不是多面和近似的模型。
元素检测
广泛的曲面和特征检测功能集，可完全控制您的表面质量布局。直接从扫描数据中执行可靠的特征提取和快速的色彩分布。
CAD云拟合
精确且易于使用的坐标对齐功能和最佳拟合。有多种解决方案可用于将CAD进行云拟合：自动拟合，最佳拟合，手动拟合或云对云拟合。
报告工具
基于手动或基于程序的尺寸分析，生成易于解释的交互式报告，可快速做出决策。
简易编程
无需成为编程专家。最终制造和组装产品的质量合规控制可以通过可访问的自动化技术进行。
多传感器就绪
我们提供广泛的改装套件，适用于任何3D测量机，并且能够集成市场上现有的大多数现有光学传感器。
免费的i-Viewer应用程序
使用i-Viewer应用程序与工程团队协作并动态交换您的点云数据：轻松与客户，合作伙伴或分包商共享检测结果。
请参阅我们的专业知识如何比以往更快地解决最关键的3D检测挑战。
主要特征
流畅的工作流程和用户友好的界面
• 根据mm²表面估算零件质量（面积计算）
• 可以完全自定义的用户界面，以适应操作员的工作习惯，使用的设备类型和测量类型
• 数据采集过程中的自动视图方向
• 多个信息窗口（位置和结果）
• 简单，功能强大的报表器
• 提供19种语言的版本，支持实时一键切换。
点云处理
• 关于点云导入没有限制
• 快速获取，最佳拟合，对齐
• 不连贯的数据点，噪声和异常值的消除
• 点云和多功能过滤
• 点云融合，平滑
• 导出基于点云的三角网格面
• 适用于CAD的云拟合的多种解决方案：自动拟合，最佳拟合，手动拟合，甚至云对云拟合
• 提供许多强大的提取功能，根据零件类型提供不同的策略。
三角网格面生成
• 多种建网功能（2D，3D，偏差误差）
• 沿曲率填充孔
• 网格着色
• 沿曲率建网
• 约束建网
• 消除测量噪点
• 网格抽取，多边形减少
• 优化有限元分析
• 3D整体形状变形。
3D检测
• 曲面或轮廓比对
• 可变比例的色差分布图
• 特定点的详细标签版本
• 手动采集助手
• 用于测量/定义/构建的单一操作窗口
• 提取元素并自动应用几何公差
• 点云和CAD之间的比较系统（色彩分布）
• 人性化的阶差和缝隙处理
CAD准备和快速原型制作
• 最佳形状提取，最简单的表面重建
• 截面计算
导入格式：常见的名义CAD文件，例如CATIA V5，IGS，STEP，VDA，SET，Pro-E，Unigraphics，NX
导出：市场上所有可能的格式。
可靠的基础
Metrolog EVO 64位原生多核开发得益于当今计算机系统的卓越性能。该软件经过优化，可以轻松处理密集，大容量的数据集，不仅可以促进点云的采集，还可以促进快速处理。
X4软件体系结构提供以下功能：
• 导入和处理巨大的CAD文件和装配体
• 导入或获取可以轻松显示和操作的大点云
• 直接从扫描数据中进行可靠的特征提取和快速的色彩分布
• 能够在使用大量数据（SDAC，点云…）的同时大幅减少转换或投影时间。
